汎銓科技於25日發布重訊，指控光焱科技侵害其第 I870008B 號「光損偵測裝置」發明專利，並求償新台幣2億元，此舉迅速引發業界關注。然而，光焱科技隨即在26日發布新聞稿強力反擊，不僅否認所有侵權指控，更直指汎銓所主張的專利技術已屬舊世代，無法適用於其自主研發的次世代高光譜成像檢測系統，雙方在晶片檢測領域的專利攻防戰全面開打。
事實陳述與專利爭議
針對汎銓科技的專利侵權指控與巨額求償，光焱科技發言人廖清霖表示，截至目前為止，公司並未收到任何法院相關訴訟函件。光焱科技對於同業在尚未經司法程序確認前，即透過媒體發布訊息的行為，深感遺憾。他們認為此舉意圖透過法律手段干擾市場正常運作，甚至阻礙產業創新發展，並對這類不正當競爭手段予以嚴正譴責。光焱科技強調，後續將積極配合司法程序進行答辯，以全力捍衛公司、客戶及全體股東的合法權益。
光焱科技進一步說明，公司深耕光學與光電子晶片檢測領域已長達16年，一向高度尊重智慧財產權。其所有核心產品均為團隊自主研發，並無使用其他公司技術或專利的需求。面對此次同業的不實指控與市場操作，光焱科技鄭重聲明，公司營運、業務及設備出貨均正常進行，財務業務皆不受影響。
光焱科技的核心反駁在於，雙方在檢測技術的世代上存在顯著落差。汎銓所聲稱的專利，是採用傳統「金相顯微鏡」構成的方案進行光損量測。而光焱科技的核心技術，則是基於次世代、更為先進的「高光譜成像技術感測模組」，能夠高度整合於客戶端的系統中，直接進行矽光子光學檢測，其中光損檢測僅是其多功能模組的其中一項應用。因此，光焱科技認為，以舊時代的金相顯微鏡專利，來控告新世代的高光譜影像感測模組，在技術層面上是站不住腳的。
各方觀點與技術世代差異
汎銓科技曾於記者會上宣稱，其相關專利曾成功挺過17項舉發而維持有效，以此作為專利強度的佐證。然而，光焱科技對此提出專業見解予以反擊。經光焱檢視公開資料，該專利舉發案之所以不成立，主要原因在於舉發人當時提出的證據，是更先進的檢測技術與零組件，主管機關因此認定這些證據與汎銓採用的傳統金相顯微鏡技術「無關」。光焱科技指出，這恰好證明汎銓的專利所保障的僅是舊世代技術，進而明確證實光焱科技所採用的高光譜成像系統與汎銓的技術截然不同，自然毫無侵權之疑慮。
光焱科技進一步強調，產業界普遍認知，「專利」保障的是特定的技術實施手段，而非將「光損檢測」這類功能名稱註冊為商標來壟斷市場。他們認為，不能因為汎銓針對其舊技術申請了專利，就無限上綱地認定市場上所有具備「光損檢測」功能的設備都侵害其權益。光焱以近期國際光學大廠蔡司（Zeiss）宣布進軍光損檢測領域為例，反問難道蔡司也構成對汎銓的侵權？此論點凸顯對方說法在產業技術與法律邏輯上皆有失偏頗。
後續觀察與產業影響
此專利訴訟不僅關乎兩家公司的商業利益，更觸及半導體檢測產業在技術快速迭代下的專利界線認定問題。尤其在矽光子等前瞻技術發展日新月異的背景下，舊有專利能否涵蓋新興技術，成為業界關注的焦點。光焱科技重申其營運、業務及設備出貨皆維持正常，財務狀況亦不受影響。然而，這起訴訟案的發展，將對未來晶片檢測領域的技術創新與市場競爭格局，產生一定的示範效應。業界將持續關注司法程序如何釐清不同世代技術之間的專利權利範圍。
