2026年3月25日，半導體材料分析大廠汎銓科技（6830）董事長柳紀綸正式對外宣布，已向智慧財產及商業法院提起訴訟，指控光焱科技（7728）涉嫌侵犯汎銓所擁有的中華民國第 I870008B號「光損偵測裝置」發明專利。汎銓在此案中，不僅要求光焱科技立即停止所有侵害專利權的行為，更提出高達新台幣2億元的損害賠償，這起智財權訴訟無疑為台灣半導體產業投下震撼彈。
汎銓科技：堅定捍衛核心技術，維護產業秩序
汎銓科技董事長柳紀綸於25日說明，公司發現光焱科技的設備及技術方案，涉及侵犯汎銓在「光損偵測裝置」上的專利權。他強調，台灣科技產業在全球享有「護國群山」的美譽，而汎銓作為專攻半導體高階先進製程材料檢測分析、AI及矽光子檢測的領導廠商，業務遍及美國、台灣、日本等全球重要半導體市場，其技術優勢是長期投入研發的成果。
柳紀綸進一步指出，為避免光焱科技持續侵害汎銓的智慧財產權，甚至可能因此引發技術及重要機密外洩等更嚴重的疑慮，汎銓在考量台灣整體科技產業的價值與重要性，以及維護公司所有利害關係人權益的前提下，決定採取法律行動。這項訴訟不僅是為汎銓自身，更是為整個產業的智慧財產權保護樹立標竿。針對此項訴訟，截至目前為止，光焱科技方面尚未對外發表公開聲明或回應。
「光損偵測裝置」專利佈局全球，強化半導體競爭力
這起專利侵權案的核心，在於汎銓科技自主研發的「光損偵測裝置」技術。柳紀綸透露，這項關鍵技術不僅已成功取得台灣及日本的發明專利，並已實際組裝三台矽光子量測分析設備投入應用，近日更進一步正式取得美國發明專利。這顯示汎銓在半導體先進製程檢測領域的技術實力與全球專利佈局。
你可能會想，為什麼「光損偵測裝置」如此重要？其實，在半導體產業的精密製程中，任何微小的光線損耗都可能影響晶片的效能與良率。這項技術對於確保高階半導體產品的品質至關重要，尤其在AI和矽光子等新興技術領域，其應用價值更是顯著。可以說，智財權猶如半導體業的護城河，保護著企業的創新成果與市場地位。
後續觀察：半導體智財權戰火升溫的啟示
汎銓科技對光焱科技提起的這宗專利訴訟案，不僅是兩家公司之間的法律糾紛，更反映出台灣半導體產業在全球競爭中，對於智慧財產權保護的日益重視。隨著技術創新速度加快，企業之間的專利攻防戰預料將更加頻繁。此案的後續發展，將可能影響台灣科技業未來在專利佈局與保護策略上的走向，值得業界持續關注。
